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設備概要
Thermo SCIENTIFIC製
TIMS（表面電離型質量分析）
TRITON Plus
各種の元素について高真空下で表面電離法によりイオン化し、高電圧で加速したイオンビームを磁場を通して各同位体を分離・検出 することによりその同位体比を精密測定する装置です。
アジレント・テクノロジー社製
ICP-QMS（誘導結合プラズマ質量分析）
Agilent7700s
高感度な多元素分析を高いサンプルスループットで実現する元素分析装置です。プラズマ （ICP） をイオン源として使用し、発生したイオンを質量分析部 （MS） で検出します。周期表上のほとんどすべての元素を同時に測定可能であり、測定元素についてサブ ng/L （ppt） の濃度レベルで測定できます。また、定性分析、半定量分析、定量分析を実行でき、質量分析であるため同位体比測定も可能です。
エスアイアイ・ナノテクノロジー社製
ICP-OES（誘導結合プラズマ発光分光分析）
SPS5510
6000 ～ 10000K のアルゴンプラズマを発光光源として使用し、霧状にした溶液サンプルをプラズマに導入することで元素固有のスペクトルを発光させ、これらのスペクトル （光の波長） から元素の存在を明らかに （定性） し、光の発光強度から元素の濃度を求めます（定量）。
RIGAKU社製
XRF（蛍光X線分析）
RIX2100
一定以上のエネルギーを持ったX線を照射した際に放出される特性X線を分光し、その発光強度からサンプルの化学組成を定量します。
JEOL社製
FE-EPMA
(電界放出型電子線マイクロアナライザ)
JXA-8530F
試料表面に電子線を照射する際に発生する元素固有のX線（特性X線）を波長分光することにより、元素の種類の同定をし、その強度から濃度の定量を行います。また、ショットキー型FE電子銃を採用することにより従来問題であった発生するX線の空間分解能を改善し、微小領域の分析や詳細なマッピングが可能となっています。
SEM-EDS
(エネルギー分散型分光装置搭載走査型電子顕微鏡)
電子線を試料表面に当て、発生する二次電子や反射電子を検出することで試料表面を観察します。さらに、搭載されているエネルギー分散型分光装置により簡単な 元素分析や組成分析が可能となっています。
設備: 研究
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